Multimetr cyfrowy, Tester LCR na biurko Cyfrowy mostek na biurko ET4501 ET4502 ET4510 10Hz~100kHz 1 Hz Płynna regulacja częstotliwości Wszechstronne możliwości pomiarowe(4501 add SMD clip)
Przegląd produktu
Marka: GUOPIN
Kolor: 4501 add SMD clip
Waga produktu: 3800 Gramy
Liczba jednostek: 1.0 sztuk
Liczba produktów: 1
Producent: GUOPIN
- 1. Zwiększona dokładność pomiaru: seria ET45 Desktop LCR Tester Digital Bridge oferuje wyższy poziom dokładności i precyzji w analizie parametrów komponentów. Dzięki podstawowej dokładności pomiaru wynoszącej 0,1% zapewnia niezawodne i precyzyjne pomiary dla szerokiej gamy komponentów i materiałów.
- 2. Szeroki zakres częstotliwości: Ten cyfrowy mostek stacjonarny obsługuje częstotliwość pomiaru do 100 kHz, co umożliwia kompleksowe testowanie. Częstotliwość jest płynnie regulowana z krokiem 1 Hz, co zapewnia elastyczność pomiaru różnych komponentów i materiałów.
- 3. Przyjazny dla użytkownika interfejs: Wyposażony w 3,5-calowy wyświetlacz TFT, ten Digital Bridge oferuje przejrzysty i intuicyjny interfejs użytkownika. Wyświetlacz prezentuje kluczowe pomiary i parametry, zapewniając łatwą interpretację wyników testu. Ponadto system można dostosować do konkretnych wymagań, takich jak preferowany język i jasność ekranu.
- 4. Wszechstronne funkcje testowania: Cyfrowy most serii ET45 oferuje różne funkcje testowania, aby sprostać różnym potrzebom. Obsługuje pomiar rezystancji DC (DCR) i kondensatorów elektrolitycznych, umożliwiając kompleksową analizę komponentów. Ponadto wewnętrzne napięcie polaryzacji wyjściowej można regulować w zakresie od 0 mV do 1500 mV, co umożliwia dokładne pomiary w różnych scenariuszach.
- 5. Wygodne opcje łączności: Wyposażony w wiele interfejsów, w tym USB Device, RS232 i Handler, ten Digital Bridge oferuje bezproblemową łączność do przesyłania danych i kontroli. Posiada również funkcję zapisu danych, umożliwiającą użytkownikom łatwe śledzenie i analizowanie danych pomiarowych. Dzięki wszechstronnym możliwościom komunikacyjnym ten Digital Bridge zapewnia bezproblemową integrację z istniejącymi systemami testowymi.